单元卷绕时的剩余薄膜检查

2024-08-11

锂电池单元卷绕时剩余薄膜检查位移测量传感器

卷绕时测量卷筒上材料的高度测量激光距离传感器


单元卷绕时的剩余薄膜检查

为确保连续运行并将机器停机时间降至更低,需要及时更换薄膜。位移测量传感器 OD2000 在卷绕时测量卷筒上材料的高度。测量范围可达 1,000 mm,同时具有高重复精度,即使卷筒直径较大,也能准确检查剩余材料。


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